本文簡(jiǎn)述雷擊浪涌測(cè)試的相關(guān)基本知識(shí)，另簡(jiǎn)述機(jī)頂盒需要做的浪涌測(cè)試指標(biāo)需求。浪涌測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)GB/T 17626.5-2008 / IEC 6100-4-5：2005

雷擊浪涌測(cè)試目的？

GB/T 17626.5-2008 / IEC 6100-4-5：2005兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了設(shè)備由開關(guān)和雷電瞬變過(guò)電壓引起的單極性浪涌（沖擊）的抗擾度要求，本部分的目的是建立一個(gè)共同的基準(zhǔn)，以評(píng)價(jià)電氣和電子設(shè)備在遭受浪涌（沖擊）時(shí)的性能。本部分規(guī)定的試驗(yàn)方法用來(lái)評(píng)定設(shè)備或系統(tǒng)對(duì)規(guī)定現(xiàn)象的抗擾度。

什么是浪涌？

沿著線路或電路傳送的電流、電壓或者功率的瞬態(tài)波，其特征是先快速上升后緩慢下降。

浪涌產(chǎn)生原因？

1.電力系統(tǒng)開關(guān)瞬態(tài)
1）主要的電力系統(tǒng)切換騷擾，例如電容器組的切換，電容瞬間放電或者充電；
2）配電系統(tǒng)中較小的局部開關(guān)動(dòng)作或者負(fù)載變化；
3）與開關(guān)器件有關(guān)的諧振現(xiàn)象；導(dǎo)致電壓出現(xiàn)振蕩波形；
4）各種的系統(tǒng)故障，例如設(shè)備組合對(duì)接地系統(tǒng)的短路和電弧故障。

2.雷電瞬態(tài)
1）直接雷，它擊于外部（戶外）電路，注入的大電流流過(guò)接地電阻或外部電路阻抗而產(chǎn)生電壓；
2）間接雷（即云層之間或者云層中的雷擊或擊于附近物體的雷擊產(chǎn)生的電磁場(chǎng)），他在建筑物內(nèi)、外導(dǎo)體上產(chǎn)生感應(yīng)電壓和電流；
3）附近直接對(duì)地放電的雷電電流，當(dāng)他耦合到設(shè)備組合接地系統(tǒng)的公共接地路徑時(shí)產(chǎn)生感應(yīng)電壓；
4）雷電保護(hù)裝置動(dòng)作時(shí)，電壓和電流可能迅速變化，并可能耦合到內(nèi)部電路。

雷擊浪涌測(cè)試試驗(yàn)等級(jí)

該等級(jí)為優(yōu)先測(cè)試等級(jí)，該標(biāo)準(zhǔn)做了規(guī)范，具體的測(cè)試等級(jí)可以根據(jù)客戶或自己公司標(biāo)準(zhǔn)做變動(dòng)。

雷擊浪涌測(cè)試試驗(yàn)設(shè)備/組合波發(fā)生器

1.通信線

要求：對(duì)稱通信線的端口，使用10/700us組合波發(fā)生器；

2.電源線、互連線

要求：電源線和短距離信號(hào)互連線，使用1.2/50us的組合波發(fā)生器(雷擊浪涌發(fā)生器)。規(guī)范施加在EUT（待測(cè)設(shè)備）上的輸出波形。波形由以下兩個(gè)定義：

1.2/50us的組合波發(fā)生器（雷擊浪涌發(fā)生器）

1.開路電壓；

要求：開路電壓波前時(shí)間1.2us；開路電壓半峰值時(shí)間50us。

2.短路電流。

要求：短路電流波前時(shí)間8us；短路電流半峰值時(shí)間20us。

1.2/50us的組合波發(fā)生器原理

選擇不同的器件值，來(lái)產(chǎn)生1.2/50us的電壓浪涌（開路）和8/20us的電流浪涌（短路情況）。

10/700us組合波發(fā)生器

1.開路電壓；

要求：開路電壓波前時(shí)間10us；開路電壓半峰值時(shí)間700us。

2.短路電流。

要求：短路電流波前時(shí)間5us；短路電流半峰值時(shí)間320us。

10/700us的組合波發(fā)生器原理

選擇不同的器件值，來(lái)產(chǎn)生10/700us的電壓浪涌（開路）和5/320us的電流浪涌（短路情況）。

電子設(shè)備浪涌測(cè)試-機(jī)頂盒

機(jī)頂盒的外部端口包含： 1.電源端口 2.Cable端口 3.USB端口 4.HDMI端口 5.網(wǎng)絡(luò)端口 6.AV端口

Cable

為了防止外部連線損壞機(jī)頂盒，故我們需要對(duì)Cable端口、HDMI端口、網(wǎng)口做雷擊/浪涌測(cè)試，特別是對(duì)于DVB-C的，浪涌來(lái)自于Cable線，可能導(dǎo)致機(jī)頂盒損壞，損壞的原因常見于燒壞屏蔽罩的隔離器件（隔離高壓電容），甚至燒壞機(jī)頂盒的Tuner芯片，導(dǎo)致機(jī)頂盒鎖臺(tái)出現(xiàn)問(wèn)題，常見的在于鎖臺(tái)失敗以及靈敏度下降嚴(yán)重（出現(xiàn)馬賽克）。所以Cable線輸入一定會(huì)做浪涌測(cè)試。

LAN口（網(wǎng)口）

網(wǎng)口也一樣，網(wǎng)口屬于通信線對(duì)稱線、互連線，所以需要做浪涌的共模以及差模，等級(jí)取決于公司標(biāo)準(zhǔn)或者客戶需求。共模就是所有數(shù)據(jù)端口接在一起，然后沒(méi)有使用的和中心抽頭接地，打雷擊測(cè)試；打差模就是每對(duì)數(shù)據(jù)線接正負(fù)，然后打一定的組合波形，測(cè)試完之后看能否Ping通，如果不能通，則表示損壞。 可能損壞的原因，CPU直接被打掛掉；網(wǎng)絡(luò)隔離變壓器也被打掛掉，所以需要網(wǎng)絡(luò)變壓器質(zhì)量好一些。

推薦型號(hào)：

雷擊/浪涌發(fā)生器

 CWG 520: 3x400V / 16A

 CWG 1500: 1.2/50 μs_8/20μs / 4.4kV

 CWG 2500: 1.2/50 μs_8/20μs / 4.4kV / 觸摸屏

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